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  • 18

    Mar

    ¿Qué es la microscopía electrónica de barrido (MEB) y cuál es su función?

    Microscopio electrónico de barrido (MEB)Es una herramienta clave para la exploración científica moderna del mundo microscópico. Desempeña un papel fundamental en la investigación científica y las aplicaciones industriales, permitiéndonos comprender la estructura microscópica de la materia mediante tecnología de imágenes electrónicas de alta resolución. El SEM escanea la superficie de la muestra co...
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  • 11

    Apr

    ¿Cuáles son los principales factores que afectan la resolución TEM?

    Las principales limitaciones deRendimiento de TEMSon la aberración esférica (también conocida como aberración), la aberración cromática y el astigmatismo. La aberración esférica y la aberración cromática limitan la resolución de la TEM tradicional. Ambos defectos son inevitables al utilizar campos electromagnéticos rotacionales simétricos estáticos. La aberración esférica es el factor más importan...
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  • 04

    Sep

    Cómo distinguir entre agentes de acoplamiento, agentes de reticulación y dispersantes

    En el procesamiento de materiales y la producción química, los agentes de acoplamiento, los agentes reticulantes y los dispersantes son tres aditivos de uso común con diferentes funciones, pero todos tienen un impacto crítico en las propiedades de los materiales. A continuación, se ofrece una explicación detallada de su definición, características principales, tipos típicos y diferencias fundament...
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  • 07

    Nov

    Dos importantes tecnologías de modificación superficial y avances en la investigación del micropulver esférico de sílice

    A pesar de micro polvo esférico de silicio Aunque es esférico y posee buena fluidez, aún presenta problemas de baja compatibilidad y dispersión cuando se utiliza como relleno inorgánico mezclado con materiales de matriz orgánica. Por lo tanto, es necesario modificar su superficie para solucionar estos problemas. Modificación superficial de micropulveres esféricos de silicio Consiste en introducir ...
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  • 28

    Nov

    Microscopía electrónica de transmisión (MET): requisitos de muestra y métodos de preparación

    En transmisión análisis por microscopía electrónica (TEM) El paso principal y crucial para obtener una imagen de alta calidad que pueda interpretarse razonablemente es la preparación de la muestra. Un grosor inadecuado de la muestra, una conductividad deficiente o daños producidos durante la preparación pueden provocar una penetración anormal del haz de electrones, distorsión de la imagen e inclus...
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