1, XRF (fluorescencia de rayos X de fluorescencia de rayos X)Utilice este método para el análisis químico de superficie, pero debe comprar muestras estándar y dibujar curvas estándar. La muestra medida debe cumplir una serie de condiciones, como una superficie lisa y una composición uniforme. Si la composición no es uniforme, solo se puede decir que la composición de la micro-área medida por XRF e...
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tamaño de partícula: el tamaño de las partículas se denomina tamaño de partícula ,, generalmente el tamaño de partícula de partículas esféricas se expresa por diámetro/tamaño de partícula, y el tamaño de partícula de partículas cúbicas se expresa por longitud lateral. el tamaño de partícula es el diámetro de una partícula. sin embargo, la mayoría de las partículas en la práctica son irregulares. p...
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la tecnología de caracterización y prueba es la forma fundamental de identificar científicamente los nanomateriales, comprender sus diversas estructuras, y evaluar sus propiedades especiales. el objetivo principal de la caracterización de los nanomateriales es determinar algunas propiedades físicas y químicas de los nanomateriales, como la morfología, el tamaño, el tamaño de las partículas, la com...
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Microscopio electrónico de transmisión (TEM) La microscopía electrónica de transmisión utiliza un haz de electrones que penetra una muestra para obtener una imagen, lo que requiere que la muestra que se observa sea "transparente" al haz de electrones incidente. La microscopía electrónica de transmisión se usa ampliamente en la ciencia de los materiales y la biología. Dado que los objetos dispersan...
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El espectrómetro de masas de plasma de acoplamiento inductivo ICP-MS es un instrumento analítico que combina la tecnología ICP y la espectrometría de masas. Puede medir simultáneamente docenas de oligoelementos. El instrumento cubre una amplia gama de elementos, incluidos metales alcalinos, metales alcalinotérreos, metales de transición y otros metaloides, elementos de tierras raras, la mayoría de...
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La desviación de la medición del analizador de tamaño de partículas está influenciada por varios factores, y los siguientes son algunos de los posibles factores: Las propiedades físicas de la muestra: la forma, el tamaño, la densidad y el color de la muestra pueden afectar la desviación de medición del analizador de tamaño de partículas. Entorno de medición: la medición de factores ambientales com...
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Medir el espesor de la capa de recubrimiento en nanopartículas requiere el uso de instrumentos y técnicas avanzadas. Los siguientes son posibles métodos de medición: Microscopio electrónico de transmisión (TEM): este es un microscopio que utiliza haces de electrones de alta densidad para observar y medir la estructura y propiedades de las nanopartículas. Para medir el espesor de la capa de recubri...
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XRF es la abreviatura de análisis de fluorescencia de rayos X, que utiliza las características de los rayos X para realizar análisis no destructivos de sustancias. XRF es la abreviatura de analizador de espectroscopia de fluorescencia de rayos X, adecuado para identificar y medir elementos en muestras sólidas, líquidas y en polvo. Determina la composición elemental de la muestra midiendo la fluore...
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