la tecnología de caracterización y prueba es la forma fundamental de identificar científicamente los nanomateriales, comprender sus diversas estructuras, y evaluar sus propiedades especiales. el objetivo principal de la caracterización de los nanomateriales es determinar algunas propiedades físicas y químicas de los nanomateriales, como la morfología, el tamaño, el tamaño de las partículas, la composición química, la estructura cristalina, la banda prohibida y las propiedades de absorción de la luz., la caracterización de la composición de los nanopolvos suele tener los siguientes métodos:

1. espectroscopia de absorción atómica (aas)

el contenido del elemento probado en la muestra se determina de acuerdo con la intensidad de absorción de su radiación de resonancia atómica por parte de los átomos en estado fundamental del elemento probado en la fase de vapor.
es adecuado para la determinación cuantitativa de impurezas de metales traza en nanomateriales con un límite de detección bajo.
la precisión de la medición es muy alta.
la selección es buena, y no se requiere detección de separación.
una amplia gama de elementos analíticos está disponible.
elementos refractarios, elementos de tierras raras y elementos no metálicos no pueden analizarse simultáneamente para múltiples elementos.

2. espectroscopia de emisión atómica (ICP) de plasma acoplado inductivamente
ICP es un método que utiliza plasma acoplado inductivamente como fuente de excitación para analizar el elemento a probar de acuerdo con las líneas espectrales características emitidas cuando los átomos del elemento a probar en estado excitado regresan al estado fundamental.
es posible el análisis simultáneo de múltiples elementos.
límite de detección muy bajo.
la estabilidad es muy buena, la precisión es muy alta, y el efecto del análisis cuantitativo es bueno.
la sensibilidad de detección de elementos no metálicos es baja.

3. espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente ICP-MS
ICP-MS es un método de espectrometría de masas elemental que utiliza plasma acoplado inductivamente como fuente de iones.
el límite de detección es bajo.
el análisis es rápido.
la interferencia del espectro es menor, y se pueden realizar análisis de isótopos.

4. espectroscopia de fluorescencia de rayos X xfs
este es un método analítico no destructivo que se puede medir directamente en muestras sólidas. tiene grandes ventajas en el análisis de composición de nanomateriales.
tiene una buena capacidad de análisis cualitativo y puede analizar todos los elementos con un número atómico superior a 3.
alta sensibilidad analítica.

5. análisis de sonda de electrones epma
el método de análisis de acuerdo con la longitud de onda y la intensidad de los rayos X se llama análisis de sonda electrónica.
la precisión del análisis es alta.
alta sensibilidad analítica.
muestra no destructiva, detección simultánea de elementos múltiples.
el análisis de la circunscripción está disponible.
el análisis de la sonda de electrones es malo para los elementos ligeros.

6. espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS)
XPS es un método de análisis de superficie que utiliza rayos X para irradiar la muestra, de modo que los electrones internos o los electrones de valencia de los átomos o moléculas se excitan y emiten, y los electrones excitados por los fotones se denominan fotoelectrones, que puede medir la energía y la cantidad de fotoelectrones, y así obtener la composición del analito.
es un análisis que mide principalmente la energía de enlace de los electrones para identificar las propiedades químicas y la composición de la superficie de la muestra.
análisis cualitativo y cuantitativo de elementos.
análisis de superficie sólida.
dentro de los 10 nm del fotoelectrón de la superficie, solo se muestra la información química de la superficie, que tiene las características de un área de análisis pequeña, poca profundidad de análisis y no daña la muestra.