la tecnología de caracterización y prueba es la forma fundamental de identificar científicamente los nanomateriales, comprender sus diversas estructuras, y evaluar sus propiedades especiales. el objetivo principal de la caracterización de los nanomateriales es determinar algunas propiedades físicas y químicas de los nanomateriales, tales como morfología, tamaño, tamaño de partícula, composición química, estructura cristalina, banda prohibida y propiedades de absorción de luz.

la estructura de fase y la estructura cristalina de los nanomateriales juegan un papel importante en el rendimiento de los materiales. en la actualidad, los métodos de análisis de estructura de nanopolvos se utilizan comúnmente de la siguiente manera:
1. análisis de difracción de rayos X
xrd es la abreviatura de difracción de rayos X, que es un método de investigación de difracción de rayos X, que es un método de investigación para obtener información como la composición del material, la estructura o morfología de los átomos o moléculas dentro del material analizando el patrón de difracción del material por difracción de rayos X.
determinación de la cristalización, fase cristalina, constante de red, estructura cristalina y estado de enlace.
las muestras amorfas no se pueden analizar.
es principalmente adecuado para sustancias inorgánicas, y el tamaño de partícula de las muestras de polvo generalmente debe estar en el rango de 0.1-10um.

2. análisis láser raman
espectroscopia raman de fuentes de luz láser. inglés espectrometría láser raman.
el análisis es rápido, simple, reproducible, y lo que es más importante, análisis cualitativo y cuantitativo no destructivo, que no requiere preparación de la muestra, y la muestra se puede medir directamente a través de la fibra óptica sonda o a través de vidrio, sílice, y fibra óptica. espectroscopia raman, como la espectroscopia infrarroja, puede realizar análisis cualitativo y cuantitativo de muestras al mismo tiempo, y los dos se complementan entre sí.
utilizado principalmente para la caracterización de superficies y películas delgadas
aplicado a la estructura de fase cristalina, tamaño de partícula, espesor de película, análisis de microestructura, etc.

3. análisis de difracción de electrones
el ángulo de difracción del haz de electrones es pequeño, la precisión de la medición es pobre, y la medición de la estructura cristalina no es tan buena como xrd.
el haz de electrones es muy delgado , adecuado para microanálisis
se utiliza principalmente para determinar las fases y su relación de orientación con la matriz.
la intensidad de difracción de electrones es grande, y el tiempo de exposición requerido es corto, y el patrón de difracción se puede capturar rápidamente.