Medir el espesor de la capa de recubrimiento en nanopartículas requiere el uso de instrumentos y técnicas avanzadas. Los siguientes son posibles métodos de medición:

Microscopio electrónico de transmisión (TEM): este es un microscopio que utiliza haces de electrones de alta densidad para observar y medir la estructura y propiedades de las nanopartículas. Para medir el espesor de la capa de recubrimiento, TEM puede determinar su espesor observando la imagen de la sección transversal de las partículas.

Microscopio electrónico de barrido (SEM): este microscopio también puede observar y medir la estructura y propiedades de las nanopartículas. A diferencia de TEM, SEM utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de electrones transmitido. Mediante el uso de SEM, se pueden preparar imágenes transversales de muestras para determinar el espesor de la capa de recubrimiento.

Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS): XPS puede realizar análisis químicos de superficies. Analizando el espectro de rayos X de la superficie de la partícula, se puede determinar la composición y el espesor de la capa de recubrimiento.

Instrumento de medición nanomecánico : este instrumento puede utilizar una sonda de presión para medir la longitud, la altura y el espesor de las partículas.

Estos instrumentos requieren conocimientos y habilidades profesionales para operar. Por lo tanto, si necesita realizar una caracterización de partículas, considere consultar a un laboratorio profesional o experto.