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  • 17

    May

    Explicación del sustantivo: XRF, EDS e ICP en el análisis de componentes

    1, XRF (fluorescencia de rayos X de fluorescencia de rayos X)Utilice este método para el análisis químico de superficie, pero debe comprar muestras estándar y dibujar curvas estándar. La muestra medida debe cumplir una serie de condiciones, como una superficie lisa y una composición uniforme. Si la composición no es uniforme, solo se puede decir que la composición de la micro-área medida por XRF e...
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  • 09

    Jun

    caracterización de nanomateriales - análisis de composición de nanopolvos

    la tecnología de caracterización y prueba es la forma fundamental de identificar científicamente los nanomateriales, comprender sus diversas estructuras, y evaluar sus propiedades especiales. el objetivo principal de la caracterización de los nanomateriales es determinar algunas propiedades físicas y químicas de los nanomateriales, como la morfología, el tamaño, el tamaño de las partículas, la com...
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  • 08

    Aug

    Una breve introducción a ICP-MS para el análisis elemental total químico

    El espectrómetro de masas de plasma de acoplamiento inductivo ICP-MS es un instrumento analítico que combina la tecnología ICP y la espectrometría de masas. Puede medir simultáneamente docenas de oligoelementos. El instrumento cubre una amplia gama de elementos, incluidos metales alcalinos, metales alcalinotérreos, metales de transición y otros metaloides, elementos de tierras raras, la mayoría de...
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  • 01

    Nov

    ¿Cuáles son las funciones de XRF, EDS e ICP?

    XRF es la abreviatura de análisis de fluorescencia de rayos X, que utiliza las características de los rayos X para realizar análisis no destructivos de sustancias. XRF es la abreviatura de analizador de espectroscopia de fluorescencia de rayos X, adecuado para identificar y medir elementos en muestras sólidas, líquidas y en polvo. Determina la composición elemental de la muestra midiendo la fluore...
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