La difracción de rayos X (DRX) es un método importante para caracterizar fases. En sentido estricto, puede determinar la existencia de una fase, pero no su ausencia, lo que facilita la distinción entre la verdad y la falsedad. Entonces, ¿cuál es su límite de detección? En primer lugar, debemos destacar que Análisis de difracción de rayos X (XRD) La medición del contenido elemental es muy imprecisa...
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En la industria actual de pinturas y plásticos, que busca alto rendimiento, ligereza y protección ambiental, los rellenos y agentes de refuerzo tradicionales han sido incapaces de satisfacer las demandas del mercado de alta gama. La aparición del óxido de magnesio nano de alta pureza, con su triple ventaja de relleno, refuerzo y funcionalización, ha impulsado el rendimiento de los productos de rec...
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1. Paradigma estructural: la ventaja de la espinela inversa Ferrita de níquel (NiFe2O4) se presenta como un semiconductor magnético de primer nivel caracterizado por su estructura cristalina de espinela inversa. En esta configuración, los iones Ni2+ se ubican en sitios octaédricos [B], mientras que los iones Fe3+Fe3+ se distribuyen entre los sitios tetraédricos (A) y octaédricos [B]. Esta disposic...
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