La preparación de nanopartículas Generalmente se clasifican en métodos físicos y métodos químicos. A continuación se presenta una lista comparativa detallada que destaca sus características: Tabla comparativa: Físico vs. Síntesis química de nanopartículas Característica Métodos físicos (de arriba hacia abajo) Métodos químicos (de abajo hacia arriba) Principio básico De arriba hacia abajo: Los mate...
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1. Paradigma estructural: la ventaja de la espinela inversa Ferrita de níquel (NiFe2O4) se presenta como un semiconductor magnético de primer nivel caracterizado por su estructura cristalina de espinela inversa. En esta configuración, los iones Ni2+ se ubican en sitios octaédricos [B], mientras que los iones Fe3+Fe3+ se distribuyen entre los sitios tetraédricos (A) y octaédricos [B]. Esta disposic...
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Alcance: determinación del contenido/pureza de Fe y elementos de impureza (Na, K, Ca, Mg, Al, Si, Mn, Cu, Pb, Cd, Cr, Ni, Zn, As, etc.) Instrumentación: ICP-OES (Fe principal + impurezas comunes, nivel ppm) / ICP-MS (impurezas traza, nivel ppb) 1. Descripción general del método ICP-OES (Espectrometría de Emisión Óptica con Plasma Acoplado Inductivamente): contenido principal de Fe + impurezas comu...
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¿Qué tamaño miden realmente XRD, SEM y TEM? La difracción de rayos X (XRD) registra cómo un cristal dispersa los rayos X, convencionalmente con el ángulo de difracción 2θ en el eje horizontal y la intensidad difractada en el eje vertical. Una disposición periódica de átomos produce picos de difracción, y el ancho de un pico está relacionado con la distancia a lo largo de la cual esa disposición pe...
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