Alcance: determinación del contenido/pureza de Fe y elementos de impureza (Na, K, Ca, Mg, Al, Si, Mn, Cu, Pb, Cd, Cr, Ni, Zn, As, etc.) Instrumentación: ICP-OES (Fe principal + impurezas comunes, nivel ppm) / ICP-MS (impurezas traza, nivel ppb) 1. Descripción general del método ICP-OES (Espectrometría de Emisión Óptica con Plasma Acoplado Inductivamente): contenido principal de Fe + impurezas comu...
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¿Qué es la aglomeración de nanopartículas? Un solo grano cristalino o esfera amorfa obtenido a partir de la síntesis se denomina partícula primaria; cuando varias partículas primarias se tocan y se unen formando una unidad más grande, se forma un aglomerado. Los aglomerados se dividen habitualmente en dos clases según la fuerza de la unión: los aglomerados blandos se mantienen unidos principalment...
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¿Qué tamaño miden realmente XRD, SEM y TEM? La difracción de rayos X (XRD) registra cómo un cristal dispersa los rayos X, convencionalmente con el ángulo de difracción 2θ en el eje horizontal y la intensidad difractada en el eje vertical. Una disposición periódica de átomos produce picos de difracción, y el ancho de un pico está relacionado con la distancia a lo largo de la cual esa disposición pe...
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